Materiaalkarakterisering of materiaalanalyse betreft het brede en algemene proces van het bepalen van de samenstelling, de structuur en/of de eigenschappen van een materiaal. Het wordt ook wel het identificeren of bepalen van materialen genoemd. Er zijn tal van analysemethoden en technieken ontwikkeld die kunnen worden gebruikt voor het vinden van deze informatie.
Het is een fundamenteel proces in het vakgebied der materiaalkunde, aangezien er zonder deze technieken geen wetenschappelijk begrip van materialen zou kunnen worden vastgesteld.[1][2] Deze karakteriseringstechnieken worden ook veel toegepast in de vastestoffysica en (analytische) chemie.
De term materiaalkarakterisering is geen vastgestelde definitie en wordt voor verschillende scala aan analysetechnieken gebruikt. Zo wordt het gebruik van de term voor sommigen beperkt tot technieken die de microscopische structuur en eigenschappen van materialen bestuderen,[2] terwijl andere de term gebruiken om te verwijzen naar elk materiaalanalyseproces, inclusief macroscopische technieken zoals mechanische materiaalproeven, thermische analyse en dichtheidsbepaling.[1] De lengteschaal van de structuren die in kaart worden gebracht bij de karakterisering van materialen varieert van ångström (10−10 m), zoals bij de beeldvorming van individuele atomen en chemische bindingen, tot centimeters, zoals bij de beeldvorming van grove korrelstructuren in metalen.
Na de uitvinding van de microscoop wordt deze vorm van karakteriseringstechniek al eeuwenlang toegepast. Echter zijn de meeste technieken in de afgelopen eeuw uitgevonden en komen er in snel tempo nieuwe bij of worden oude verbeterd. Met name de komst van de elektronenmicroscoop en secundaire-ionenmassaspectrometrie (SIMS) in de 20e eeuw hebben een revolutie teweeggebracht in het veld, waardoor de beeldvorming en analyse van structuren en composities op veel kleinere schaal mogelijk was dan voorheen. Dit leidde tot een meer kennis en begrip van de verschillende materialen en hoe deze tot stand komen. In de afgelopen 30 jaar heeft atoomkrachtmicroscopie (AFM) de maximaal haalbare analyseresolutie van bepaalde substraten verder verhoogd.
